报告题目：电容断层成像在工业中的应用（Electrical capacitance tomography for industrial application）

报 告 人：杨五强 教授（英国曼彻斯特大学）

时 间：2017年9月14日（星期四）下午14:30-16:00

地 点：工学一号馆201会议室

专家简历

杨五强，曼彻斯特大学电子电气工程学院教授，国际电气与电子工程师学会会士（IEEE Fellow，或译成“院士”）, 英国工程技术学会会士（IET Fellow）, 国际测量和控制学会会士（InstMC Fellow），ECT Instruments Ltd (www.ect-instruments.com)创始人。主要研究工业X线断层摄影术（主要是电容断层成像）、感知和数据获取系统、电路设计、图像重构算法、多相流体测量等。杨教授发表了超过400篇学术论文，担任IEEE Trans. Instrumentation and Measurement副主编、40余家期刊的编审以及多个期刊的客座编审。杨教授还担任多个高校的客座教授。

报告摘要

在各种诸如X光、 伽玛射线、微波、电子和超声波的工业断层成像方法中,电容断层成像（ECT）是最成熟的技术，并有很多挑战性的应用。ECT技术基于测量一个如多相流这样的工业过程的截面电容并重建它的介电常数分布。从ECT所获得的复杂过程的内部信息，对于理解该过程的复杂现象、验证计算流体动力学（CFT）模型、测量以及控制等，都具有重要意义。和其它断层成像技术相比，ECT具有无辐射、反应快、非侵入性和非损害性、耐高温、耐高压以及低成本等优势。因为测量到的电容极小（小至0.001pF）以及软场性质，ECT的确给电路设计、逆向问题的求解以及工程上带来了挑战。我们最新的基于交流电的系统，可以在一秒钟之内获得300桢在线图像，信噪比（SNR）达到73分贝。相关的工业应用包括对气／油和水流的测量、湿气体的分离、气动输送机、旋风分离器和流化床等。在本次演讲中，我们将讨论ECT，从基本原理到工业应用，并展现一个基于交流ECT的系统。

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